本振泄露是什么怎么测试 本振泄露现象是什么过程是怎样的

2022-07-08 16:01:19
来源:幸福云阳网

本振泄漏即LO泄漏,是指泄漏到进出口或输入区的本振信号。本振是指“基本振动”,超外差接收将接收器通过振动电路产生的频率和接收信号“混合”在一起,产生固定的中频信号并放大,该接收器产生的振动称为“本振”。

本振泄露现象:

向上转换模块固有由自身零件生成的直流偏移。DC偏置乘以载波,等于载波泄漏到射频路径。

本振泄露过程:

在低中频或零中频发射机体系结构中,LO泄漏是不可避免的,在其他应用程序中,LO泄漏可能会产生负面影响。

例如,在宽带RRU中没有介质滤波器衰减L0,因此在放大器中与载波信号相互作用,危及放大器的可靠性。在零中频中,LO泄漏会直接恶化发送信号SNR,影响EVM。

因此,为了确保发射机的指标和正常运行,必须将LO泄漏控制在合理的范围内。不同的调制板有不同的固有振动泄漏。这是因为不同调制器的固有DC偏移不同,所以另一个光谱会突出来。

本振泄露简单的调整方法:向FPGA的数字路径添加DC偏移,以补偿设备特定的DC偏移。

本振泄露的原因

在发电机体系结构中,正交调制信号和局部振荡器信号总是有幅相不平衡和直流偏移误差,局部振荡器泄漏是不可避免的。

本振泄露的影响

本地振荡器的泄漏会产生不同程度的负面影响。在宽带RF单元中,本地振荡器泄漏与载波信号相互作用,直接加剧发射信号SNR(信噪比),从而影响EVM(误差向量幅度)。

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